Phasics波前测量解决方案

作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的完美多功能工具。

基于Phasics的独家专利技术，SID4 UV HR波前传感器可在190 nm至400 nm的紫外波段提供无与伦比的高相位分辨率（512x 512取样分辨率）和极高的相位灵敏度（优于2 nm RMS）。 因此，SID4 UV HR非常适合用于光刻，半导体等领域的光学组件表征和表面面型检测（透镜和晶圆等）。

SID4 HR为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。

SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。 SID4 SWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。 它的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4 UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查（表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等）和光学组件的表征（镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等）。 SID4-UHR搭载高性能相机，也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512 相位取样分辨率使SID4 UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。

SID4 eSWIR波前传感器将Phasics的专利技术与T2SL探测器结合在一起，提供市面上唯一覆盖01.2至2.2 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4 eSWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 eSWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与T2SL探测器结合在一起，提供市面上唯一覆盖01.2至2.2 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4 eSWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

SID4 HR V是市面首款推出的真空环境兼容的波前传感器，为高能激光产业中自适应光学技术的发展与应用开拓了全新的可能。该款真空兼容设备可便于使用者在实际实验条件下实现波前的原位测量，可表征脉宽压缩装置中的短脉冲激光束，并测量高能激光靶点附近的气体与等离子体密度。 借助Phasics独特的检测策略，可以使用SID4 V将真空室内直到目标靶点位置的每个光学元件的像差均进行校正。 SID4 HR V还可以用于环境测试期间的波前测量。

作为最低可至波长190 nm的高分辨率波前传感器，SID4 UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。

Phasics可开发研制定制款SID4以满足用户的特定项目需求.

Developed over four years, PhaseStudio is a significant advancement in wavefront measurement. It represents a major leap forward in the field of metrology solutions to address the specific requirements of photonics innovators.