Phasics
波前测量解决方案

作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的完美多功能工具。

基于Phasics的独家专利技术，SID4 UV HR波前传感器可在190 nm至400 nm的紫外波段提供无与伦比的高相位分辨率（512x 512取样分辨率）和极高的相位灵敏度（优于2 nm RMS）。 因此，SID4 UV HR非常适合用于光刻，半导体等领域的光学组件表征和表面面型检测（透镜和晶圆等）。

SID4 HR为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。

SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。

Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。

Phasics在光学计量领域持续创新，推出能够兼顾测量透射波前误差和反射波前误差（TWE / RWE）的革命性新产品：Kaleo MultiWAVE动态干涉仪。 直径最高至5.1英寸（130毫米）的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。 Kaleo MultiWAVE是购买多台干涉仪或特殊波长干涉仪的有效替代方案，拥有极高性价比。 该系统同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的优秀抗震性能。

Kalas is a modular solution that integrates all the necessary components to characterize beams of up to 127mm (5’’) with high accuracy (< 15 nm RMS). In a single-shot, Kalas measures wavefront and intensity, ...

R-Cube为反射式光源模块插件，可通过与Phasics的波前传感器组合轻松进行双透射或反射测量。 它适用于反射镜和大口径透镜的像差测量，并有助于校准光学测试系统或自适应光学系统中的小型望远镜。 该光源可生成高质量的准直光束， 只需插合波前传感器即可轻松准确的完成双透射光路下的波前测量。

SID4 sC8专为生命科学和材料分析定量相位成像应用而设计，它以紧凑的即插即用解决方案带来了真正意义的快速和精准的定量相位测量。 生物学家将从无标记细胞成像，高灵敏度和自动图像分割功能中受益，而材料科学家将获得准确的折射率测量，激光损伤阈值分析和表面表征。

SID4 SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。 SID4 SWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。 它的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4 UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查（表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等）和光学组件的表征（镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等）。 SID4-UHR搭载高性能相机，也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512 相位取样分辨率使SID4 UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。

SID4 eSWIR波前传感器将Phasics的专利技术与T2SL探测器结合在一起，提供市面上唯一覆盖01.2至2.2 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4 eSWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 eSWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与T2SL探测器结合在一起，提供市面上唯一覆盖01.2至2.2 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4 eSWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

SID4 HR V是市面首款推出的真空环境兼容的波前传感器，为高能激光产业中自适应光学技术的发展与应用开拓了全新的可能。该款真空兼容设备可便于使用者在实际实验条件下实现波前的原位测量，可表征脉宽压缩装置中的短脉冲激光束，并测量高能激光靶点附近的气体与等离子体密度。 借助Phasics独特的检测策略，可以使用SID4 V将真空室内直到目标靶点位置的每个光学元件的像差均进行校正。 SID4 HR V还可以用于环境测试期间的波前测量。

SID4 Bio是用于定量相位成像的即插即用型相机。 它可与任何光学显微镜一起搭配使用，并能够测量活细胞样品及众多其他透明样品上有价值的光学数值参数。

作为最低可至波长190 nm的高分辨率波前传感器，SID4 UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。

Phasics可开发研制定制款SID4以满足用户的特定项目需求.

具有挑战性的项目可能需要定制的波前计量解决方案。 Phasics团队开发定制的光学测试台和仪器，以满足客户的特定项目要求。 Phasics的强大研发团队由经验丰富的光学，机械，电气及软件工程师和博士组成，可以随时帮助您解决最具挑战性的波前计量难题。

Phasics Kaleo IR系列红外光学测试台使红外镜头的质量监控变得快速有效，只需单次图像采集即可获得全部空间频率下调制传递函数（MTF）的完整曲线，无需多次扫描或复杂的对准。 测量MTF的同时还提供实时波前像差信息。 Kaleo IR系列红外光学测试台可为近红外、短波红外、中红外或远红外波段内的任意工作波长提供具有高性价比的红外干涉仪+传函仪。

每台Phasics波前传感器均随附一套专业软件权限。 Phasics软件涵盖了激光测试，自适应光学，光学计量和定量相位成像等不同应用。

Phasics自适应光学环路可以集成任意可变形镜设备，包括机械式变形镜，压电式变形镜，空间光调制器等。凭借多年的经验，Phasics为可变形设备的选择和集成提供了专业的支持。 我们的专家团队将根据预算要求和环境限制推荐最适合用户所需的设备。

Developed over four years, PhaseStudio is a significant advancement in wavefront measurement. It represents a major leap forward in the field of metrology solutions to address the specific requirements of photonics innovators.